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Fiel ion microscopy , principles and applications / Erwin W. Muller / New York : American Elsevier Publishing Company (1969)
Título : Fiel ion microscopy , principles and applications Tipo de documento: texto impreso Autores: Erwin W. Muller Editorial: New York : American Elsevier Publishing Company Fecha de publicación: 1969 Número de páginas: 314 páginas Il.: ilustraciones Dimensiones: 24 centímetros Clasificación: MICROSCOPIO Clasificación: 578 M9IN Nota de contenido: Fundamentals oF Field Ion Microscopy. Field Ionization. Field Evaporation. Field Ion Microscope Design and Operation. Observational Techniques. Image Interpretation. Aplications oF Field Ion Microscopy. Link: https://pmb.unjbg.edu.pe/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=7245 Ejemplares (1)
Código de barras Signatura Tipo de medio Ubicación Sección Estado Area BC11349 578 M9IN Libro Biblioteca Central ACB - Ciencias Naturales y Matematicas Disponible Area_Ciencias_Basicas