Fiel ion microscopy , principles and applications / Erwin W. Muller / New York : American Elsevier Publishing Company (1969)

Hacer una sugerencia de compra Título : Fiel ion microscopy , principles and applications Tipo de documento: texto impreso Autores: Erwin W. Muller Editorial: New York : American Elsevier Publishing Company Fecha de publicación: 1969 Número de páginas: 314 páginas Il.: ilustraciones Dimensiones: 24 centímetros Clasificación: MICROSCOPIO Clasificación: 578 M9IN Nota de contenido: Fundamentals oF Field Ion Microscopy. Field Ionization. Field Evaporation. Field Ion Microscope Design and Operation. Observational Techniques. Image Interpretation. Aplications oF Field Ion Microscopy. Link: https://pmb.unjbg.edu.pe/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=7245

Ejemplares (1)

Código de barras	Signatura	Tipo de medio	Ubicación	Sección	Estado	Area
BC11349	578 M9IN	Libro	Biblioteca Central	ACB - Ciencias Naturales y Matematicas	Disponible	Area_Ciencias_Basicas

---

1 (1 - 1 / 1) Par page : 25 50 100 200